Automatizirana optička inspekcija
Jun 14, 2025
AOI algoritmi otkrivaju 0 . 01mm² mapiranjem koristeći mapiranje visine . 3 D Identificira ukidane vode i probleme sa multipektralnim osvetljenjem otkriva ostatke fluksa . Integracija sa MES-om omogućava analizu defekcije. Lažno-pozitivne stope<0.5% with AI training. High-speed systems: 40cm²/sec scan rate. Challenges: Reflective component inspection.
Sljedeći: SMT za 5g mmwave
